在工业过程控制分析中，荧光光谱仪的灵敏度、精度及分析速度是至关重要的。SPECTROiQII在这一领域已建立了相应标准。的SPECTROiQII在此基础上进一步改进了技术，提高了操作简便性和可靠性。

　　

　　在许多情况下，荧光光谱仪在测定主要成分的精度及重要痕量元素的灵敏度可以同价格昂贵的波长色散型X荧光光谱仪相媲美。以往只能用波长色散型X荧光光谱仪完成的分析任务，现在通过SPECTRO*的偏振能量色散型仪器即可地完成。

　　

　　X射线是一种电磁辐射，其波长介于紫外线和Y射线之间。荧光光谱仪的波长没有一个严格界限，一般来说是指波长为0.001-50nm的电磁辐射。对分析化学家来说，感兴趣的波段是0.01-24nm，0.01nm左右是超铀元素的k系谱线。1923年赫维西（Hevesy.G.Von）提出了应用X射线荧光光谱进行定量分析，但由于受到当时探测技术水平的限制该法并未得到实际应用，直到20世纪40年代后期，随着X射线管、分光技术和半导体探测器技术的改进，X荧光分析才开始进入蓬勃发展的时期，成为一种极为重要分析手段。